電子暨半導體部門
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Equipment, Process
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Equipment, Inspection & Measurement
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Assembly and Test
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Materials
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Sub-Systems, Components, Parts
＋Mask Aligner System
＋Evaporator System
＋ICP RIE System
＋PECVD System
＋Wafer Bonding System
＋Sputter System
＋Plasma Stripper System
＋LED Chip Mapping Sorter
＋LED Chip Probe Station
＋LED AOI Sorter
＋LED Die Bonder
＋Spin Coater
＋Wet Bench
＋Spin Dryer
＋Spectroscopic Reflectometer
＋Ellisometer
＋Surface Profiler
＋MORE………
LED Products
全光譜膜厚測量儀（Spectroscopic Reflectometer ）
RADITECH公司經營Spectroscopic Ellisometer全光譜橢圓儀,為目前全球最先進的量測技術，開創膜厚度量測的新紀元,可依客戶需求，300~200nm的波長範圍可以選擇,性價比超值,是LED製造商最佳選擇.
量測時間1—3秒，精確度高。
可以量測穿透率（T%）量測色度座標，膜厚（N，K）值，反射率（R%）。
本公司備有DEMO機台，可以免費量測Sample。
全光譜膜厚測量儀（Spectroscopic
Reflectometer ）
