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首页 商品介绍 封装测试设备 Assembly and Test Mixed Signal IC & Discrete Test System IC混合信号/分立器件,测试主机

Mixed Signal IC & Discrete Test System IC混合信号/分立器件,测试主机


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QT-8100IC测试系统适用于常规DCAC参数测试和IC器件功能性测试。 主要测试:电源管理类;数码消费类;通信接口类;汽车、节能环保电子类;标准线性电路;存储器,处理器芯片;特殊专用或定制类IC以及晶元测试。





封装测试设备 Assembly and Test 1015943