電子暨半導體部門

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Equipment, Process
. Equipment, Inspection & Measurement
. Assembly and Test
. Materials
. Sub-Systems, Components, Parts
LED Products  
   

　
表面輪廓儀（臺階儀）
   美國AMBIOS出品的| High Resolution Surface Profilometer價格低，體積小巧，性能卓越。
可用於測量輪廓、臺階高度、膜厚、薄膜應力，用於控制各種薄膜的生長工藝。
XP-2臺階儀帶有極低接觸力選件、大尺寸200mm真空吸樣台、大範圍150mmx150mm自動二維自動臺階、光學變焦系統、薄膜應力測試軟體等。
放上樣品後所有操作由滑鼠點擊軟體介面實現，無需手的動作或操作按鈕。

　 　
　
　
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